|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Compositional analysis of thin SiO x N y :H films by heavy-ion ERDA, standard RBS, EDX and AES: a comparison |
| Auteur: |
Bohne, W Röhrich, J Schöpke, A Selle, B Sieber, I Fuhs, W del Prado, Á San Andrés, E Mártil, I González-Dı́az, G |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 217 (2004) nr. 2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |