|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 36 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion-beam induced defects and nanoscale amorphous clusters in silicon carbide |
| Auteur: |
Weber, W.J Gao, F Devanathan, R Jiang, W Wang, C.M |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 216 (2004) nr. C pagina's 11 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 36 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |