|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of laterally non-uniform layers and sub-micron devices by Rutherford backscattering spectrometry |
| Auteur: |
Mangelinck, D. Lee, P.S. Osipowitcz, T. Pey, K.L. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 215 (2004) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |