|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 103 gevonden artikelen
| Titel: |
High-resolution channeling contrast microscopy of compositionally graded Si1−X Ge X layers |
| Auteur: |
Seng, H.L. Osipowicz, T. Sum, T.C. Breese, M.B.H. Watt, F. Tok, E.S. Zhang, J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 210 (2003) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 103 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |