|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 74 van 163 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution multiple electron impact ionisation of He, Ne, Ar, Kr and Xe atoms close to threshold: Appearance energies and Wannier exponents |
| Auteur: |
Gstir, B. Denifl, S. Hanel, G. Rümmele, M. Fiegele, T. Stano, M. Feketeova, L. Matejcik, S. Becker, K. Scheier, P. Märk, T.D. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 205 (2003) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 74 van 163 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |