|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 115 gevonden artikelen
| Titel: |
Double resonance capacitance spectroscopy (DORCAS): A new experimental technique for assignment of X-ray absorption peaks to surface sites of semiconductor |
| Auteur: |
Ishii, Masashi |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 199 (2003) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 115 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |