|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 72 van 183 gevonden artikelen
| Titel: |
In-depth concentration distribution of Ar in Si surface after low-energy Ar+ ion sputtering |
| Auteur: |
Oh, D.W. Oh, S.K. Kang, H.J. Lee, H.I. Moon, D.W. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 190 (2002) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 72 van 183 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |