|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 183 gevonden artikelen
| Titel: |
High resolution channeling contrast microscopy and channeling analysis of SiGe quantum well structures |
| Auteur: |
Osipowicz, T. Seng, H.L. Wielunski, L.S. Tok, E.S. Breton, G. Zhang, J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 190 (2002) nr. 1-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 183 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |