Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 35 van 183 gevonden artikelen
 
 
  Depth profiles of cluster-ion-implanted BSi in silicon
 
 
Titel: Depth profiles of cluster-ion-implanted BSi in silicon
Auteur: Liang, Jenq-Horng
Chiang, Shiaw-Lung
Chen, Chin-Tsai
Niu, Huan
Tseng, Mao-Sheng
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
Paginering: Jaargang 190 (2002) nr. 1-4 pagina's 5 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 35 van 183 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland