|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Anomalously high yield of doubly charged Si ions sputtered from cleaned Si surface by keV neutral Ar impact |
| Auteur: |
Shinde, N. Morita, K. Dhole, S.D. Ishikawa, D. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 182 (2001) nr. 1-4 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |