|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of silicon oxynitride films using ion beam analysis techniques |
| Auteur: |
Walker, S.R Davies, J.A Mascher, P Wallace, S.G Lennard, W.N Massoumi, G.R Elliman, R.G Ophel, T.R Timmers, H |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 170 (2000) nr. 3-4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |