|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 85 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of solid phase epitaxial regrowth on ion-implanted silicon by backscattering spectrometry and ellipsometry |
| Auteur: |
Fried, M. Lohner, T. Vizkelethy, G. Jároli, E. Mezey, G. Gyulai, J. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 15 (1986) nr. 1-6 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 85 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |