|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Fractional secondary ion yields of Be, Zn, Cr and Si in InP, GaInAs and Ga1−xAlxAs |
| Auteur: |
Gauneau, M. Chaplain, R. Salvi, M. Duhamel, N. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 15 (1986) nr. 1-6 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |