|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 48 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Depth profiles of hydrogen and oxygen in hydrogenated amorphous silicon thin films |
| Auteur: |
Sie, S.H. McKenzie, D.R. Smith, G.B. Ryan, C.G. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 15 (1986) nr. 1-6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 48 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |