|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 165 van 175 gevonden artikelen
| Titel: |
Thick target X-ray yields and intensity ratios for MeV Br and Kr ion impact and application to the analysis of pottery |
| Auteur: |
Tenorio, D. Costa, G. Bordas, M. Larcher, J. Lagarde, G. Heitz, C. Jaidar, A. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 15 (1986) nr. 1-6 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1986 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 165 van 175 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |