Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 147 van 175 gevonden artikelen
 
 
  SIMS analysis of buried silicon nitride layers formed by high dose implantation of 14N and 15N
 
 
Titel: SIMS analysis of buried silicon nitride layers formed by high dose implantation of 14N and 15N
Auteur: Kilner, J.A.
Chater, R.J.
Hemment, P.L.F.
Peart, R.F.
Reeson, K.J.
Arrowsmith, R.P.
Davis, J.R.
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
Paginering: Jaargang 15 (1986) nr. 1-6 pagina's 4 p.
Jaar: 1986
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 147 van 175 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland