|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Ion beam induced depth profile modification of H, D and He implanted in Be, C and Si |
| Auteur: |
Schiettekatte, F. Ross, G.G. Chevarier, A. Chevarier, N. Plantier, A. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 132 (1997) nr. 4 pagina's 607-619 |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |