|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 33 van 56 gevonden artikelen
| Titel: |
New method based on atomic force microscopy for in-depth characterization of damage in Si irradiated with 209 MeV Kr |
| Auteur: |
Biró, L.P. Gyulai, J. Havancsák, K. Didyk, A.Yu. Bogen, S. Frey, L. Ryssel, H. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 122 (1997) nr. 3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 33 van 56 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |