|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
A characterisation of the morphology of porous silicon films by proton energy loss fluctuation measurements with a narrow resonance in the 15N(p,αγ)12C reaction |
| Auteur: |
Amsel, G. d'Artemare, E. Battistig, G. Morazzani, V. Ortega, C. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 122 (1997) nr. 1 pagina's 14 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |