|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 41 van 68 gevonden artikelen
| Titel: |
2 MeV Si ion implantation damage in relaxed Si1−x Ge x |
| Auteur: |
O'Raifeartaigh, C. Barklie, R.C. Nylandsted Larsen, A. Priolo, F. Franzó, G. Lulli, G. Bianconi, M. Lindner, J.K.N. Cristiano, F. Hemment, P.L.F. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 120 (1996) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 41 van 68 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |