Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 41 van 68 gevonden artikelen
 
 
  2 MeV Si ion implantation damage in relaxed Si1−x Ge x
 
 
Titel: 2 MeV Si ion implantation damage in relaxed Si1−x Ge x
Auteur: O'Raifeartaigh, C.
Barklie, R.C.
Nylandsted Larsen, A.
Priolo, F.
Franzó, G.
Lulli, G.
Bianconi, M.
Lindner, J.K.N.
Cristiano, F.
Hemment, P.L.F.
Verschenen in: Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms
Paginering: Jaargang 120 (1996) nr. 1-4 pagina's 4 p.
Jaar: 1996
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 41 van 68 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland