|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 16 van 153 gevonden artikelen
| Titel: |
Backscattering analysis of thin SiO2 films on Si using 16O(α,α)16O 3.045 MeV resonance |
| Auteur: |
Watamori, Michio Oura, Kenjiro Hirao, Takashi Sasabe, Kaoru |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 118 (1996) nr. 1-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 16 van 153 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |