|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Quantitative prediction of acceptor concentration reduction in boron doped silicon due to electron irradiation |
| Auteur: |
Everaert, J.L. Verhaegen, F. Van Meirhaeghe, R.L. Uyttenhove, J. Cardon, F. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 117 (1996) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |