|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 46 van 110 gevonden artikelen
| Titel: |
In situ EELS and TEM observation of silicon carbide irradiated with helium ions at low temperature and successively annealed |
| Auteur: |
Hojou, K. Furuno, S. Kushita, K.N. Otsu, H. Furuya, Y. Izui, K. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 116 (1996) nr. 1-4 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 46 van 110 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |