|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
XTEM and IR absorption analysis of silicon carbide prepared by high temperature carbon implantation in silicon |
| Auteur: |
Simon, L. Fauré, J. Mesli, A. Heiser, T. Grob, J.J. Balladore, J.L. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 112 (1996) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 75 gevonden artikelen
| << vorige |