|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Spectroscopic ellipsometry applied to the determination of an ion implantation depth profile |
| Auteur: |
Boher, Pierre Stehle, Jean Louis Piel, Jean Philippe Fried, M. Lohner, T. Polgar, O. Khanh, N.Q. Barsony, I. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 112 (1996) nr. 1-4 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |