|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 37 van 75 gevonden artikelen
| Titel: |
Layer and interface analysis of ultra thin ion beam produced silicon nitride layers by NRA and TEM |
| Auteur: |
Markwitz, A. Klein, S. Michelmann, R.W. Baumann, H. Krimmel, E.F. Bethge, K. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 112 (1996) nr. 1-4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 37 van 75 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |