|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 36 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of L X-ray intensity ratios in tantalum by proton and Si-ion impact |
| Auteur: |
Braich, J.S. Goyal, D.P. Mandal, A. Dhal, B.B. Singh, B.P. Padhi, H.C. Khurana, C.S. Verma, H.R. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 111 (1996) nr. 1-2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 36 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |