|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 69 van 112 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimization of buried implanted layer in dynamic random access memories by soft error mapping and ion beam-induced current |
| Auteur: |
Kishimoto, T. Sayama, H. Takai, M. Ohno, Y. Sonoda, K. Nishimura, T. Kinomura, A. Horino, Y. Fujii, K. |
| Verschenen in: |
Nuclear instruments and methods in physics research. Section B, Beam interactions with materials and atoms |
| Paginering: | Jaargang 104 (1995) nr. 1-4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1995 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 69 van 112 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |