|
Characterization of LiNb1−x Ta xO3 composition-spread thin film by the scanning microwave microscope |
|
|
|
Titel: |
Characterization of LiNb1−x Ta xO3 composition-spread thin film by the scanning microwave microscope |
Auteur: |
Okazaki, Noriaki Okazaki, Sohei Higuma, Hiroko Miyashita, Shoji Cho, Yasuo Nishimura, Jun Fukumura, Tomoteru Kawasaki, Masashi Murakami, Makoto Yamamoto, Yukio Matsumoto, Yuji Koinuma, Hideomi Hasegawa, Tetsuya |
Verschenen in: |
Applied surface science |
Paginering: |
Jaargang 223 (2004) nr. 1-3 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2004 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|