|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 138 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of device performance and reliability of high performance Ge-on-Si field-effect transistor |
| Auteur: |
Choi, Won-Ho Oh, Jungwoo Yoo, Ook-Sang Han, In-Shik Na, Min-Ki Kwon, Hyuk-Min Park, Byung-Suk Majhi, P. Tseng, H.-H. Jammy, R. Lee, Hi-Deok |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 88 (2011) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 138 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |