|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of series resistance and interface properties on the operation of AlGaN/GaN high electron mobility transistors |
| Auteur: |
Jeon, Dae-Young Kim, Do-Kywn Park, So Jeong Koh, Yumin Cho, Chu-Young Kim, Gyu-Tae Park, Kyung-Ho |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 199 () nr. C pagina's 40-44 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |