|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 28 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhancement of effective dielectric constant using high-temperature mixed and sub-nano-laminated atomic layer deposited Y2O3/Al2O3 on GaAs(001) |
| Auteur: |
Lin, K.Y. Young, L.B. Cheng, C.K. Chen, K.H. Lin, Y.H. Wan, H.W. Cai, R.F. Lo, S.C. Li, M.Y. Kwo, J. Hong, M. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 178 (2017) nr. C pagina's 271-274 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 28 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |