|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 74 gevonden artikelen
| Titel: |
Demonstration of 2e12cm−2 eV−1 2D-oxide interface trap density on back-gated MoS2 flake devices with 2.5nm EOT |
| Auteur: |
Gaur, A. Balaji, Y. Lin, D. Adelmann, C. Van Houdt, J. Heyns, M. Mocuta, D. Radu, I. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 178 (2017) nr. C pagina's 145-149 |
| Jaar: |
2017 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 74 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |