|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 103 van 140 gevonden artikelen
| Titel: |
Nanoscale imaging and X-ray spectroscopy of electrically active defects in ultra thin dielectrics on silicon |
| Auteur: |
Bernardini, S. Ishii, M. Whittaker, E. Hamilton, B. Freeland, J.W. Poolton, N.R.J. De Gendt, S. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 84 (2007) nr. 9-10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 103 van 140 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |