|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 83 van 138 gevonden artikelen
| Titel: |
KFM detection of charges injected by AFM into a thin SiO2 layer containing Si nanocrystals |
| Auteur: |
Dumas, C. Ressier, L. Grisolia, J. Arbouet, A. Paillard, V. BenAssayag, G. Schamm, S. Normand, P. |
| Verschenen in: |
Microelectronic engineering |
| Paginering: | Jaargang 85 (2008) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 83 van 138 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |
Toegankelijkheidsverklaring