|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 19 van 44 gevonden artikelen
| Titel: |
Enhanced thin-film measurement via integrated Fast Fourier Transform and machine learning |
| Auteur: |
Wang, Yuxin Zhou, Shizheng Quan, Yue Liu, Yu Lai, Shen Zhou, Yinning |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 505 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 19 van 44 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |