|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 58 van 76 gevonden artikelen
| Titel: |
Microstructure quantification of oblique angle sputtered porous a-Si thin films as a basis for structure-property relations of solid phase microextraction coatings |
| Auteur: |
Moeini, Behnam Fullwood, David T. Minson, Paul Shollenberger, Daniel Bell, David S. Argyle, Morris D. Vanfleet, Richard Linford, Matthew R. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 473 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 58 van 76 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |