|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 54 van 61 gevonden artikelen
| Titel: |
Structure and properties of TiSi2 thin films and TiSi2-Si(111) interfaces |
| Auteur: |
Valiev, K.A. Vasiliev, A.G. Vasiliev, A.L. Kiselev, N.A. Orlikovsky, A.A. Sedelnikov, A.E. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 45 (1991) nr. 1-3 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1991 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Sequoia S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 54 van 61 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |