|
Probing the onset of wurtzite phase formation in (V,Al)N thin films by transmission electron microscopy and atom probe tomography |
|
|
|
Titel: |
Probing the onset of wurtzite phase formation in (V,Al)N thin films by transmission electron microscopy and atom probe tomography |
Auteur: |
Hans, Marcus Czigány, Zsolt Neuß, Deborah Sälker, Janis A. Rueß, Holger Krause, Janina Nayak, Ganesh K. Holec, David Schneider, Jochen M. |
Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
Paginering: |
Jaargang 442 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2022 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
The Authors |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|