|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 32 van 81 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of bias voltage-dependent mechanical properties of amorphous TiSi2 thin films on PEEK by nano-characterization techniques |
| Auteur: |
Frutos, E. Serra, R. Jiménez, J.A. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 409 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 32 van 81 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |