|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 43 van 63 gevonden artikelen
| Titel: |
Nano-scale residual stress depth profiling in Cu/W nano-multilayers as a function of magnetron sputtering pressure |
| Auteur: |
Romano-Brandt, León Salvati, Enrico Le Bourhis, Eric Moxham, Thomas Dolbnya, Igor P. Korsunsky, Alexander M. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 381 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 43 van 63 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |