|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 113 van 122 gevonden artikelen
| Titel: |
TEM characterization of Cu self-annealing and direct proof of pinhole formation mechanism in a Cu film |
| Auteur: |
Ho, C.E. Chen, C.C. Yang, C.H. Lee, P.T. Hsieh, W.Z. Wu, Y.S. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 350 () nr. C pagina's 1010-1019 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 113 van 122 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |