Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 113 van 122 gevonden artikelen
 
 
  TEM characterization of Cu self-annealing and direct proof of pinhole formation mechanism in a Cu film
 
 
Titel: TEM characterization of Cu self-annealing and direct proof of pinhole formation mechanism in a Cu film
Auteur: Ho, C.E.
Chen, C.C.
Yang, C.H.
Lee, P.T.
Hsieh, W.Z.
Wu, Y.S.
Verschenen in: Surface & coatings technology
Paginering: Jaargang 350 () nr. C pagina's 1010-1019
Jaar: 2018
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 113 van 122 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland