Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 10 van 108 gevonden artikelen
 
 
  Characterization of interfacial delamination in multi-layered integrated circuit packaging
 
 
Titel: Characterization of interfacial delamination in multi-layered integrated circuit packaging
Auteur: Lin, Pamela
Shen, Fei
Yeo, Alfred
Liu, Bo
Xue, Ming
Xu, Huan
Zhou, Kun
Verschenen in: Surface & coatings technology
Paginering: Jaargang 320 (2017) nr. C pagina's 349-356
Jaar: 2017
Inhoud:
Uitgever: Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 10 van 108 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland