|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 38 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of SEM digital images to quantify crack network pattern area in chromium electrodeposits |
| Auteur: |
Vidal, M. Ostra, M. Imaz, N. García-Lecina, E. Ubide, C. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 285 (2016) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2016 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 38 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |