|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 39 van 48 gevonden artikelen
| Titel: |
Residual stress measurement in DLC films deposited by PBIID method using Raman microprobe spectroscopy |
| Auteur: |
Miki, Yasuhiro Nishimoto, Akio Sone, Takumi Araki, Yoshiji |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 283 (2015) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 39 van 48 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |