|
A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings |
|
|
|
Titel: |
A combinatorial X-ray sub-micron diffraction study of microstructure, residual stress and phase stability in TiAlN coatings |
Auteur: |
Riedl, A. Daniel, R. Todt, J. Stefenelli, M. Holec, D. Sartory, B. Krywka, C. Müller, M. Mitterer, C. Keckes, J. |
Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
Paginering: |
Jaargang 257 (2014) nr. C pagina's 6 p. |
Jaar: |
2014 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|