|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| Titel: |
Ellipsometric and XPS characterization of transparent nickel oxide thin films deposited by reactive HiPIMS |
| Auteur: |
Nguyen, D.T. Ferrec, A. Keraudy, J. Richard-Plouet, M. Goullet, A. Cattin, L. Brohan, L. Jouan, P.-Y. |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 250 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 12 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |