|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 104 van 113 gevonden artikelen
| Titel: |
The AlN layer thickness dependent coherent epitaxial growth, stress and hardness in NbN/AlN nanostructured multilayer films |
| Auteur: |
Wen, Mao Huang, Hao Zhang, Kan Meng, Qingnan Li, Xin Kong, Lingwei Hu, Chaoquan Zheng, Weitao |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 235 (2013) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 104 van 113 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |