|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 67 van 127 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of gate-bias stress and hot-carrier stress-induced instability of InGaZnO thin-film transistors under different environments |
| Auteur: |
Hsieh, Tien-Yu Chang, Ting-Chang Chen, Te-Chih Tsai, Ming-Yen Chen, Yu-Te Jian, Fu-Yen Lin, Chia-Sheng Tsai, Wu-Wei Chiang, Wen-Jen Yan, Jing-Yi |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 231 (2013) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 67 van 127 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |