|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 76 van 134 gevonden artikelen
| Titel: |
Novel degradation model of MOSFET thin gate oxide induced by VUV photons during high density plasma oxide deposition |
| Auteur: |
Kim, Moojin Lee, Jeongyun Kim, Dongkwon Min, Gyungjin |
| Verschenen in: |
Surface & coatings technology |
| Paginering: | Jaargang 228 (2013) nr. S1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 76 van 134 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |